近場探頭EM5030（DC-3G）是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的

產品型號：
廠商性質：代理商
更新時間：2025-10-22
訪問量：2087

聯系電話：15820775741

近場探頭EM5030（DC-3G）

概述：

近場探頭EM5030（DC-3G） 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實現定位功能。通過配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統測試靈敏度。

技術參數：

訂購信息：

EM5030 近場探頭（3G）

標準配置：4根探頭、N型轉接頭、連接線、包裝箱；

上一篇：EMI傳導輻射預測試套裝EMC-SET2（3G）
下一篇：PBS1近場探頭組（DC-9G）

日韩高清一二区I日韩xxx视频I婷婷综合网I久草在线中文视频I456免费视频I女人18片毛片90分钟

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：